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分享光學(xué)窗口片檢測的基本原理

點(diǎn)擊次數(shù):3024 更新時(shí)間:2019-11-05
   光學(xué)窗口片是一種在光路中起到保護(hù)電子元件/傳感器/半導(dǎo)體元件作用的光學(xué)平板。窗口片是光學(xué)中的基礎(chǔ)光學(xué)元件之一,是一種在光路中起到保護(hù)電子元件/傳感器/半導(dǎo)體元件作用的光學(xué)平板。窗口片不會(huì)改變光學(xué)的放大倍率,在光路中僅影響光程。透光率、面型精度、厚度、平行度、基底材質(zhì)等機(jī)械屬性是窗口片重要的參數(shù)指標(biāo)。
  光學(xué)窗口片是經(jīng)過磨、拋光后形成相互平行的兩個(gè)表面的光學(xué)玻璃片。它們用在兩種環(huán)境間時(shí)可作為保護(hù)原件,然而它們對通過的可見光幾乎沒有影響 。常用的鍍膜有減反射膜(AR)和防刮傷膜(AS),也可按照客戶需求改善更好的效果,可以防水防塵防刮傷,按照客戶要求定制。光學(xué)窗口片是光學(xué)系統(tǒng)的前置保護(hù)片,主要可用于CCD/CMOS芯片的封裝、光學(xué)儀器、測量儀器及數(shù)碼設(shè)備的保護(hù)、激光二極管上的蓋片等。
  光學(xué)窗口片檢測的基本原理
  光學(xué)窗口片中的各種雜質(zhì),在光學(xué)特性上必然與光學(xué)窗口片本身有差異。當(dāng)光線入射光學(xué)窗口片后,各種雜質(zhì)會(huì)在反射、折射等方面表現(xiàn)出與周圍光學(xué)窗口片不同的異樣。例如,當(dāng)均勻光垂直入射光學(xué)窗口片時(shí),如光學(xué)窗口片中沒有雜質(zhì),出射的方向不會(huì)發(fā)生改變,所探測到的光也是均勻的;當(dāng)光學(xué)窗口片中含有雜質(zhì)時(shí),出射的光線就會(huì)發(fā)生變化,所探測到的圖像也要隨之改變。由于雜質(zhì)的存在,在其周圍就發(fā)生了應(yīng)力集中及變形,在圖像中也容易觀察。若遇到光透射型缺陷(如裂紋、氣泡等),光線在該缺陷位置會(huì)發(fā)生折射,光的強(qiáng)度比周圍的要大,因而相機(jī)靶面上探測到的光也相應(yīng)增強(qiáng);若遇到光吸收型(如砂粒等)雜質(zhì),則該缺陷位置的光會(huì)變?nèi)?,相機(jī)靶面上探測到的光比周圍的光要弱。分析相機(jī)采集到的圖像信號(hào)的強(qiáng)弱變化、圖像特征,便能獲取相應(yīng)的缺陷信息。
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